2026-09-16

HIWIN半导体晶圆移载系统:EFEM整合方案与FOPLP面板级封装实测数据

一、三大核心组件:全自制关键零组件与实测精度

HIWIN的晶圆传输三大件,在精度与可靠性上均有明确的量化数据支撑:

HIWIN半导体晶圆移载系统:EFEM整合方案与FOPLP面板级封装实测数据 

晶圆搬运机器人:重复定位精度±0.1mm,洁净度等级Class 1ISO Class 3) 至Class 100。提供EHAM四大系列,Z轴行程300-500mmR/W轴移动速度覆盖950~2000mm/s。在12英寸晶圆厂实测中,其平均无故障时间(MTBF)达21,600小时,远超SEMI标准要求的15,000小时。

 

Load Port晶圆装卸机:支持8吋与12吋晶圆盒(FOUP/FOSB/Open Cassette),洁净度Class 1。标准功能含载具辨识(Info pad)、在席检知、晶圆凸片检知及防夹手等;选配晶圆扫片(Mapping)、E84通讯、RFID模组,可无缝接入自动化物料搬运系统(AMHS)。

 

晶圆寻边器(Aligner):中心重复精度±0.1mmNotch角度重复精度±0.2°,寻边时间<5.9秒。支持2-12吋晶圆,针对翘曲晶圆(翘曲度≤±1.5mm)亦有对应型号可选。

 

二、系统级整合:EFEM与面板级封装(PLP)方案

HIWIN的核心价值在于将三大件整合为完整的EFEM模块。该模块能弹性选配Wafer ID读取、RFID感应、寻边校正、凸片检知等周边配件,并已通过SEMI S2认证。

 

针对面板级封装(FOPLP) 这一新兴领域,HIWIN已推出适用于510mm×515mm600mm×600mm基板的PLP EFEMPLP Robot方案,其重复精度<±0.1mm,震动值<1G,单位小时产出(UPH)可达20-200片(不含校正站),可处理厚度<4mm、翘曲<±12mm的大型基板,展现了快速响应新工艺的能力。

 

在智慧制造方面,HIWIN首度与高通合作,将Edge AI解决方案导入Load Port产品,实现设备端实时异常判读与载具状态感知,提升高速运转下的自主判断与即时修正能力。

 

三、应用实绩与覆盖范围

HIWIN的晶圆传输方案已覆盖CMP研磨(端面跳动±2-5μm)、光刻检测(动态Yaw<0.3角秒)、清洗蚀刻(边缘夹持客制)、AOI检测(双面大中空设计) 等全制程,累计交付超过1,200台套晶圆机器人,服务于中国大陆、台湾地区、韩国及欧洲27家晶圆厂。在12英寸产线中,采用其系统通常6-8个月即可收回设备投资。

 

除半导体次系统外,上银同步提供直线导轨(行走平行度±0.5μm/100mm)、滚珠丝杠(C0级累积导程误差±1.5μm/300mm)、单轴机器人(安装容易、高精度) 及直线电机定位平台(最大速度5m/s,重现精度±0.1μm) 等完整传动产品线,为半导体设备提供从传动到自动化的全系列支持。

 

如需针对特定制程进行EFEM组态规划、晶圆机器人选型,或获取传动元件精度匹配方案,可直接联系HIWIN工程团队。

 

半导体自动化与传动方案咨询专线:15250417671

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